Besuch aus China: Metrologischer Wissensaustausch im BEV 02.12.2024 - Spannender Austausch über Präzision und Innovation: Eine hochrangige Delegation aus China besuchte das Bundesamt für Eich- und Vermessungswesen – BEV, um über metrologische Expertise und mögliche Kooperationen zu sprechen.

Am 22. November empfing das BEV eine hochrangige Delegation der chinesischen SAMR (State Administration for Market Regulation). Unter der Leitung von Vizeminister Bai Qingyuan sowie in Begleitung von Vertretern der chinesischen Botschaft in Wien tauschte sich die Gruppe intensiv mit der Abteilung Eichwesen aus.

Im Rahmen eines Arbeitsgesprächs wurden den Gästen die vielseitigen Aufgaben des BEV als nationales Metrologie-Institut und als Behörde für das gesetzliche Messwesen vorgestellt. Schwerpunkte des Dialogs lagen auf der Tätigkeit des Physikalisch-technischen Prüfdienstes und auf einem Erfahrungsaustausch zu metrologischen Arbeitsmethoden in China und Österreich.

Besondere Aufmerksamkeit galt dabei den spezifischen Fachbereichen und Messmöglichkeiten beider Länder. Auch Potenziale für eine künftige Zusammenarbeit, etwa in den zukunftsweisenden Bereichen E-Mobilität und Wasserstofftechnologie, wurden erörtert.

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Michael Freisinger, Christina Hofstätter-Mohler, Petra Jachs, Veronika Rennmayr, Christian Buchner, Anna Wonaschütz, Petra Milota und Robert Edelmaier (v.l.n.r.) begrüßten die chinesische Delegation im Namen des BEV. Foto: © BEV / Bernhard Rotter